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Oberflächenanalytik

SIMS - für Tiefenprofilanalysen, Bestimmung der Oberflächenzusammensetzung, und Bildgebung von Elementen, Hiden's SIMS Workstation liefert hierfür die komplette Analysenumgebung.

 

 

Produkte

 

Eine komplette SIMS Analysenumgebung.
Für statische und dynamische SIMS Anwendungen.
Für Anwendungen in der Oberflächen- und Tiefenprofilanalyse.
'Bolt-On' Sonden.
Triple Filter Hochleistungs-Quadrupol-Massenspektrometer.
Puls-Ionenzähldetektion.
RGA Serie Quadrupol-Massenspektrometer.
TPD Workstation für thermische Beschichtungsstudien.

 

 

Broschüre

 

icon SIMS Broschüre TI 181 (669.66 kB)

icon SIMS Broschüre TI 181 HiRes (5.5 MB)

icon MAXIM Quadrupol SIMS Analysator (561.59 kB)

icon IG5C Caesium Ionenkanone (820.44 kB)

 

 

Präsentationen

 

icon IMP Endpunktdetektionssystem für Ionenätzanwendungen (277.87 kB)

icon SIMS - Bilder (2.17 MB)

icon SIMS Workstation & Anbausysteme (4.22 MB)

 

 

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Applikationshinweise

 

icon Energetische (Schnell) Analyse von Neutralen Teilchen (84.43 kB)

icon Energieverteilung von Ionen und Atomen aus einer Magnetron-Quelle (172.14 kB)

icon EQP/EQS Zeitaufgelöste Studien in Ionenstrahl- und Plasmaprozessen (245.57 kB)

icon EQS vs. EPIC - Ionenenergie-Verteilungsfunktion (270.08 kB)

icon Schnelle Analyse von Neutralteilchen (300.59 kB)

 

 

Technische Informationen

 

icon Daten-/Steuerungseingänge und Ausgänge und Spezielle Anwendungen (16.38 kB)

icon EPIC 1000 Serie Abmessungen (41.97 kB)

icon EQS 1000 Serie - Zeichnung (78.62 kB)

icon EQS 300/500 Serie - Zeichnung (52.17 kB)

icon SIMS Imaging FoV - Zeichnung (60.02 kB)

icon UHV TPD Analysator Kundenspezifische Abschirmungen (2.69 MB)

 

 

Produktspezifikationen

 

icon 3F Triplefilter für Temperaturprogrammierte Desoprtion (84.34 kB)

icon IG20 Ionenkanone für Dynamische SIMS (60.37 kB)